可测性设计-扫描通路

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1、问题：扫描测试的原理

扫描测试的两个目的：

1、实现对组合逻辑电路输入的控制。

2、对组合逻辑电路的输出进行观察。

如图所示：当前状态即寄存器的输出，一般直接接到组合逻辑的输入端口，通过对寄存器扫描特定的数值，即可完成对组合电路输入的控制。

同时，当前的组合逻辑的输出也接到寄存器的输入端口，在测试数据施加之前，有必要将当前的输出扫描出来。

整个扫描测试分为三部分：

A. Mode = 0，执行一次扫描操作，将100（组合电路的结果）扫描到寄存器中。

B. Mode = 1，执行三次扫描操作，将测试模板110扫描到寄存器中，同时将上一次的结果（100）扫描出来。

C.Mode = 0，电路进入工作模式，此时即完成对组合逻辑输入的控制。

可测性设计-扫描通路

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原文地址：http://www.cnblogs.com/littleMa/p/5315283.html