scan cell

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scan cell有两种不同的input：

1)data input：由电路的combinational logic驱动；

2)scan input：由另一个scan cell驱动，从而形成scan chain；

在normal/capture mode下，data input来驱动output；

在shift mode下，scan input来驱动output；

几种scan_cell：muxed-D scan，clockd-scan，level-sensitive scan design(LSSD)；

muxed-D Scan cell：多指edge_triggered muxed-D scan cell，由一个D flip-flop和一个multiplexer组成，

scan enable(SE)用来选择data input和scan input的输入。

一个level-sensitive的muxed-D scan cell，由一个multiplexer，一个D Latch，一个D FF。

来用替代一个普通的latch

Clocked-scan cell：

也主要用来替代D-FF，不过是通过两个独立的clk来进行选择，

一个data clock DCK；一个shift clock SCK；

主要的优势是不会对data path的timing造成影响，但是要求多一个clock的routing。

LSSD scan cell：

主要是应用在level_sensitive，latch-based design中。

cell包含两个latch，一个master latch，一个slave latch。

其中A/B/D均为clock，D为data input，I为scan input。

优点是可以保证race-free，但是同样会增加clock的routing。

scan architecture

1)full-scan design：所有的storage element都转变为scan cell，combinational ATPG来生成test；

主要的优点是将sequential的ATPG转变为简单的combinational ATPG；

almost full-scan design：在某些critical path和insignificant path上不加入scan。

Muxed-D Full-Scan Design:

Clocked Full-Scan Design：与Muxed-D类似，只是不再使用SE，分别使用两个clock。

LSSD Full-Scan Design:两个时钟C1/C2，A/B来控制shift和capture两种mode。

在full-scan的logic中，输入由两种：

primary input(PI)，电路的external input；

pseudo primary input(PPI)，scan cell的output

两种输出：

primary output(PO)，电路的external output；

pseudo primary output(PPO)，scan cell的input；

2)partial-scan design：部分的storage element转变为scan cell，combination和sequential ATPG来生成test；

在test的生成过程中，sequential的ATPG必须包含non-scan的FF的control和observe，这会增加test generation的

复杂性，所以一般将逻辑分开，可以根据functional partition，pipeline/feed_forward partial design.

Full-scan,partitial-scan都被定义为serial scan design，优点是routing的成本会比较低，缺点是每一个单独的scan-cell不能

在不影响本scan chain的其他cell的前提下，完成shift mode，造成high switchingde power消耗。

Random-access scan通过类似RAM似的地址寻址的方式来完成一个cell的shift mode。

3)random-access scan design：不用serial scan chain，使用random addressing的机制；

scan cell

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原文地址：http://www.cnblogs.com/-9-8/p/5621523.html