标签:ges round 集成 集成测试 -- 接口 直接 存在 central
今天做集成测试的时候被领导说测到的MDIO信号过冲较大(正反向过冲都很大),容易损坏接口或阻容,万一那个电容耐压值不够就挂了。
我原本是不屑的,私以为MDIO、IIC、SPI等只要抓到的波形不影响判决,读写数据正常就不会出问题。但是领导强烈要求消除过冲,不过你有什么看法,还是要先埋头做好分配的任务。
该MDIO、MDC信号使用FPGA的IO,线上串有22ohm电阻。尝试性得换上面的22ohm为100ohm后过冲小了很多,原先存在于电平上的振铃跑到了上升沿上面,甚至出现回勾。将原22ohm改为50.1ohm后过冲很小,上升下降时间也没有100ohm那么夸张,甚是欣慰,可以交差了。
调节电阻的过程有点像PID阶跃响应的波形调整,很亲切。
知其然,知其所以然,以前一直不理解的信号线上面串联小电阻在现在似乎终于明白了点什么,参考文章:http://blog.csdn.net/xiangyuqxq/article/details/7271969
看原理图时,经常看到串一些小电阻,如22欧姆,但是也不是一定串。同样场合有的串,有的不串。请哪位高人指点一下吧:) -------------------------------------------------------------------------------- 一般的做法是在信号源端串小电阻,在信号终端并一个小电阻。 |
可参考《高速传输接口串联小电阻(过冲问题)》
https://wenku.baidu.com/view/dd35a6de172ded630a1cb622.html
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原文地址:http://www.cnblogs.com/dluff/p/7533654.html