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I.STM32 DWT时间戳功能实现
1.m3、m4实测可用。
2.精度：1/内核频率(s)。
3.实现流程：
a.先使能DWT外设，由内核调试寄存器DEM_CR的位24控制，写1使能。
b.使能CYCCNT寄存器之前，先清0。
c.使能CYCCNT寄存器，由DWT_CTRL的位0控制，写1使能。
4.实现代码如下：
1 //寄存器基地址 2 #define DWT_CR *(uint32_t*)0xE0001000 3 #define DWT_CYCCNT *(uint32_t*)0xE0001004 4 #define DEM_CR *(uint32_t*)0xE000EDFC 5 6 //定义需使能位 7 #define DEM_CR_TRCENA (1<<24) 8 #define DWT_CR_CYCCNTENA (1<<0) 9 10 //DWT init 11 void DWT_init(void) 12 { 13 DEM_CR |= (uint32_t)DEM_CR_TRCENA; 14 DWT_CYCCNT = (uint32_t)0u; 15 DWT_CR |= (uint32_t)DWT_CR_CYCCNTENA; 16 } 17 //get DWT count 18 uint32_t DWT_TS_GET(void) 19 { 20 return((uint32_t)DWT_CYCCNT); 21 }
5.使用场景：
a.可用来实现延时功能。
b.测量程序运行时间。
c.。。。。。
II.STM32 ITM调试功能实现
1.概念：ITM是一应用驱动的跟踪源，它支持printf类的调试手段来跟踪操作系统和应用事件，
并发布判定的系统信息。ITM以包的形式发布跟踪信息。
2.实际应用：当调试时需要打印出信息，而又不能占用串口时，ITM就派上用场了。
3.m3、m4实测可用。
4.配置步骤：
a.配置TPIU并使能I/IO_TRACEN以使能TRACE的引脚
b.向Trace Lock Access寄存器写入0xC5ACCE55，以允许写其他ITM寄存器
c.向Trace Control寄存器写入0x00010005,使能TPIU的同步包并使能整个ITM功能，
寄存器中的ATB ID为0x01
d.向ITM Trace Enable寄存器写入0x01，以使能触发端口0
e.向ITM Trace Privilege寄存器写入0x01，关闭对触发端口7:0的屏蔽
f.把需要输出的值写入触发端口0寄存器，这个步骤可以通过软件完成（使用printf功能）
5.注意事项：
a.只能使用SWD方式调试
b.需要使用到TRACESWO引脚，正常为PB3
6.代码实现：
1 int main(void) 2 { 3 int dat = 0; 4 5 DBGMCU->CR = 0x27;//使能TRACE的引脚 6 ITM->LAR = 0xC5ACCE55;//允许写其他ITM寄存器 7 ITM->TCR = 0x00010005; //使能TPIU的同步包并使能整个ITM功能 8 ITM->TER = 0x01;//以使能触发端口0 9 ITM->TPR = 0x01;//关闭对触发端口7:0的屏蔽 10 ITM_RxBuffer = 0x5AA55AA5;//如果不需要scanf功能可屏蔽掉 11 12 printf("input data"); 13 for(;;) 14 { 15 scanf("%s",&dat); 16 if(dat) 17 { 18 ptintf("your input is %d\n",dat); 19 dat = 0; 20 } 21 } 22 } 23 24 //重定义printf功能 25 int fputc(int ch,FILE *f) 26 { 27 return ITM_SendChar(ch); 28 } 29 //重定义scanf功能 30 int fgetc(FILE *f) 31 { 32 while(ITM_CheckChar() != 1) __NOP(); 33 return (ITM_ReceiveChar()); 34 } 35
7.功能窗口：
可使用以下两种方式查看打印信息:
a.使用keil debug功能。
b.使用J-link SWO Viewer。
打开J-link SWO Viewer工具，选择相应的芯片型号。
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原文地址：http://www.cnblogs.com/qiufengmuye/p/7899840.html
