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芯片测试

时间:2020-02-28 17:14:06      阅读:38      评论:0      收藏:0      [点我收藏+]

标签:bsp   ++   测试结果   void   new   out   static   tin   stat   

问题描述
  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
  按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
import java.util.Scanner;


public class Main {

    
         public static void main(String[] args) {
                Scanner sc = new Scanner(System.in);
                int n = sc.nextInt();
                int[][] m = new int[n][n];
                
                for (int i = 0; i < n; i++) {
                    for (int j = 0; j < n; j++) {
                        m[i][j] = sc.nextInt();
                    }
                }
                
              
                
                for (int j = 0; j < n; j++) {
                    int num = 0;
                    for (int i = 0; i < n; i++) {
                        if (i != j)
                            num += m[i][j];
                    }
                    if (num >= n / 2) {
                        System.out.print(j + 1 + " ");
                    }
                }
            }


}

 

芯片测试

标签:bsp   ++   测试结果   void   new   out   static   tin   stat   

原文地址:https://www.cnblogs.com/shiaguang/p/12377997.html

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