标签：半导体 nvme 智能 控制器 设计 表示 之间 一点 优点
在科技圈，无论是品牌厂商还是消费者都人文“跑分即性能”，尤其是对于固态硬盘来说，跑分测试成绩还是能够很好的反映出产品性能强弱的。通常，影响固态硬盘数据存储安全的因素主要包括闪存的PE擦写次数、固件的优化，还有就是产品主控、PCB等用料设计，坦率来说固态硬盘产品的设计和用料对于普通消费者来说很难辨别。有哪些靠谱的跑分软件？
宏旺半导体了解到，一般对固态硬盘进行跑分时采用的测试软件有鲁大师、AS SSD Benchmark、CrystalDiskMark、CrystalDiskInfo、ATTOBenchmark等等。
首先是AS SSD BenchMark，这也是一款普及度很高的固态硬盘测试软件，除了常规的性能测试以外，这款软件还可以直接看到固态硬盘的4K是否对齐，这一点对于固态硬盘性能的发挥很重要。AS SSD可以在MB/s和IOPS两种测试单位之间互相转换，常规意义上我们一般用MB/s来表示固态硬盘的连续读写性能，用IOPS来表示固态硬盘的随机读写性能，在这里我们主要看随机读写性能即可。
CrystalDiskMark，简称CDM，属于较为早期的测试软件。它涵盖了连续读写、512KB和4KB数据包随机读写性能，以及队列深度为32的情况下的4K随机性能。队列深度描述的是硬盘能够同时激活的最大IO值，队列深度越大，实际性能也会越高。该软件读写速度测试倾向于非压缩算法，而非压缩算法SSD具备不掉速的特性。默认队列深度为1，默认测试次数为5次，每次测试1GB的数据量，最大支持32GB，不过一般测试情况下保持默认即可。
跑分会对固态硬盘伤害大吗？
固态硬盘作为存储部件，跑分肯定会产生写入和读取，不可避免地会增加闪存磨损。不过宏旺半导体想说的是，磨损的程度却因程序而异。像AS SSD Benchmark这类写完数据就删除的测试，固态硬盘可以利用SLC缓冲区延缓释放的策略来减少实际对TLC闪存的擦写次数，降低跑分对硬盘寿命产生的影响。这样一来，跑分不仅是一时爽，还能一直跑一直爽。
随着全新的PCle 4.0规范的到来，M.2 SSD在性能的确有了巨大提升，但同时也面临了更严峻的考验。众所周知，高性能的M.2SSD一直饱受发热困扰，发热增加带来的负面影响就是过热保护，一旦达到了温度上限，SSD就会采取降低主控频率等措施减少发热，这时候就必然会影响SSD性能。
为了确保最佳性能，宏旺半导体这款固态硬盘在散热上也是下足了功夫，旺半导体推出的M.2 NVME SSD具有体积小、静音、超高的读写性能、启动速度快、抗振耐冲击等优点，采用高速的PCIE3.0 控制器，集成环境温度传感IC和浪涌保护电路，能应付各种苛刻的环境。最重要的是，有着专业的服务和产品品质保障，是国内存储玩家必不可少的选择之一。除了主控的智能温控之外，这款固态硬盘散热效果也是十分显著，能够很好的保障SSD在长时间高速运行下拥有极速稳定的性能。
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