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一、functional pattern

测试覆盖率不够，用functional pattern做为补充。

functional pattern保存在EVCD文件里：

TEST-T> set_patterns  -external  -strobe .. filename.evcd

怎么生成EVCD文件？

 fault simulation after ATPG

##先进行ATPG过程
BUILD-T> run_build _model top_mod_name
DRC-T> run_drc atpg_related.spf
TEST-T> add_faults -all
TEST-T> run_atpg -auto
TEST-T> report_summaries
TEST-T> write patterns pat.bin  -f binary  -replace
TEST-T> write_faults atpg.flt  -all  -uncollapsed  -replace
##从ATPG运行中读取故障列表，并保留故障分类、减少活动故障，以进行功能模式故障仿真
TEST-T> drc -force
DRC-T> remove_pi_constraints -all
DRC-T> remove_clocks -all
DRC-T> set_drc -nofile
DRC-T> test
TEST-T> set_patterns -external  -strobe . . . my_asic.evcd
TEST-T> read_faults atpg.flt  -force_retain
TEST-T> run_simulation -sequential   
TEST-T> run_fault_sim -seauential

二、test point分析

run_testpoint_analysis   [ -max_test_points <number>]   最多可写入的测试点数，默认为1000

　　　　　　　　　　   [ -num_observe_points _per_cell <number>]  与扫描单元或PO异或的观察点数，默认8

　　　　　　　　　　   [ -test _point_file <file_name>]

　　　　　　　　　　   [ -replace] 

　　　　　　　　　   　[ -class <sub-class>]  默认分析所有未检测到的故障；可以选择特定的故障子类别，可同时选择多个子类别；　 

　　　　　　　　　　   [ -dont_touch <instance>]  避免放置测试点

参考脚本：

run_build_model
run_drc
add_faults -all
run_atpg -auto
run_testpoint_analysis <options>
run_atpg -auto -observe <test_point_file>

 三、基于clock域的fault相关命令

launch与capture在同一时钟域

add_faults -launch CLKA -capture CLKA
add_faults -launch CLKB -capture CLKB

launch与capture在不同时钟域

add_faults -launch CLKA -capture CLKB

add_faults -launch CLKB -capture CLKA

四、clock grouping

• 禁用所有inter-clock路径

　　　set_delay -common_launch_capture_clock

• 每次捕获多个时钟  （ 让多个时钟并行起来）

　　　系统时钟启动：set_delay -allow_multiple_common_clocks

　　　 -common_launch_capture_clock选项在DRC之前发出

• 启用干扰时钟分组  

　　　set_delay -disturbed（默认为开启）

ATPG原理及实现——6.fault grading

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原文地址：https://www.cnblogs.com/yilia-er/p/14251515.html