统计过程控制与评价 Cpk、SPC、PPM

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Cpk(Process capability index)--工序能力指数

SPC(Statisical Process Control)--工艺过程统计受控状态分析

PPM(Parts Per Million)--百万分之几

第一章 习题

1.1 对现代电子元器件生产，常规可靠性评价方法（抽样实验、可靠性寿命试验、现场使用数据积累等）存在什么问题？

抽样方法 不能区分出高水平产品之间的质量差别。

可靠性寿命试验 在失效率水平目标未10FIT时，要求的样品数多达几万个，这个样本试验的成本太大了

现场数据采集与积累方法  滞后性 。新研制的产品要使用一段时间后才能得出结论。

1.2 说明元器件失效率随时间变化关系的“浴盆曲线”的含义，结合“浴盆曲线”，说明 “设计和制造”以及“筛选试验”分别对元器件质量和可靠性起什么作用？

随时间变化电子元器件的失效曲线。

通过“试验再筛选”只能剔除早期失效的产品，并不能降低偶然失效期间的失效率。因此筛选只能提高产品的使用可靠性，并不能真正提高产品的“内在质量和可靠性”。

可靠性是设计、制造出来的。 

     元器件生产厂家通过试验筛选只能剔除早期失效的产品，只有通过设计和制造才能降低偶然失效期间的失效率，推迟损耗失效的发生时间，真正祈祷提高元器件内在质量和可靠性的作用。

     因此，可以改变支队最终产品进行评价的传统方法，通过对设计和工艺的评价来评价元器件产品的内在质量和可靠性。 

1.3 元器件可靠性与元器件生产成品率之间有什么关系？如何理解他们之间存在的这种关系？

1.4 元器件生产厂家实施Cpk、SPC、和PPM技术分别起什么作用？

1.5 整机厂在采购元器件时，为什么要求元器件生产厂实施Cpk、SPC和PPM技术，并且要求提供Cpk、SPC、和 PPM 数据？

统计过程控制与评价 Cpk、SPC、PPM

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